Optyczny system pomiarowy X-Sight 3D DIC

jest wszechstronny i łatwy w obsłudze. X-Sight 3D to adaptowalny system do zaawansowanej i zróżnicowanej stereoskopowej analizy odkształceń obejmującej odkształcenia poza płaszczyzną i pomiary ruchu. Jego wysoka dokładność i niezawodność gwarantują solidne dane wyjściowe dla różnych zastosowań, w tym szybkiego obrazowania. System może być również wykorzystywany jako najbardziej zaawansowany, niestandardowy ekstensometr optyczny.

Dzięki wszechstronnym funkcjom analitycznym po przetwarzaniu, system zapewnia skuteczny sposób walidacji wyników FEM, weryfikacji modeli CAD i przeprowadzania analiz deformacji strukturalnych.
X-Sight 3D może być wyposażony w szeroką gamę kamer, obiektywów, świateł i innych akcesoriów optycznych.