Wideoekstensometry i Ekstensometry Laserowe
Systemy Cyfrowej Koleracji Obrazu
Systemy Elektronicznej Interferometrii Plamkowej
Projektowanie stanowisk badawczych
Oporogramowanie systemowe
Programowanie metod badawczych
Czujniki MTS
Czujniki InterfaceForce
Czujniki Momentu Obrotowego do 1200 Nm i 12000 obr/min
Acumen
Bionix Landmark
Tytron MiniBionix
Stanowiska Badawcze
Wielokanałowe Kontrolery
Bezkontaktowa Analiza Odkształceń
Testowanie Konstrukcji
Badanie Materiałów Konstrukcyjnych
Badanie Wytrzymałości Mocowań
Badanie Betonu
Symulatory Sejsmiczne
Badanie Konstrukcji Budowlanych i Drogowych
Sterowanie Maszyn Wytrzymałościowych
Zaawansowana Kompensacja Adaptacyjna
Wielokanałowe Kontrolery Czasu Rzeczywistego
Badania Jednosiowe
Ściskanie ze Ścinaniem
Komory Trójosiowe do 1400 Atmosfer
Testowanie Komponentów
Wieloosiowe Stanowiska Badawcze
Zaawansowane Symulatory Drogi
Badania do 1000 Hz
Maszyny Osiowo-Skrętne
Maszyny Dynamiczne od 10 kN do 30 000 kN
Biomateriały, Elastomery, Metale, Skały, Kompozyty...
Testy Statyczne, Dynamiczne, Zmęczeniowe...
Testy Zgodne z EN, ISO, ASTM...
Serwozawory
Siłowniki Hydrauliczne
Zasilacze Hydrauliczne SilenFlo
Badanie Dużych Sił
Symulatory Obciążeń Drogowych i Kolejowych
Złożone Wielosiowowe Stanowiska Badawcze

Firma Elhys

Firma ELHYS Sp. z o.o. powstała w 1986 roku  i od samego początku jest przedstawicielem firmy MTS w Polsce i pełni autoryzowany serwis.

o firmie

Newsletter firmy Elhys

Zachęcamy Państwa do zapisania się na listę subskrybentów naszego Newslettera.

Przy pomocy Newslettera będziemy Państwa informowali o wszystkich aktualnościach:

  • nowościach technicznych
  • aktualnych imprezach
  • promocjach
  • szkoleniach

Zapisz mnie! 

Link do strony z subskrypcja

Wypisz mnie z listy... 

 

Systemy elektronicznej interferometrii plamkowej (ESPI)

Systemy elektronicznej interferometrii plamkowej służą do analizy pola odkształceń (3D). Charakteryzują się większą rozdzielczością pomiaru od technik cyfrowej korelacji obrazu Urządzenie jest bardzo łatwe w obsłudze dzięki zaawansowanemu oprogramowaniu ISTRA 4D.

Podstawowa instrukcja obsługi zawiera się na jednej stronie formatu A4. Pomiary można wykonywać już po jednej godzinie szkolenia. Istnieje kilka odmian tego systemu ze względu na wielkość analizowanych próbek i szybkość rejestrowanych zmian.

System składa się z głowicy pomiarowej (kamera + oświetlenie) oraz oprogramowania zainstalowanego na komputerze przenośnym. Cały system może być przechowywany w jednej walizce dzięki czemu jest w pełni przenośny.

Oprogramowanie dla wszystkich typów głowic jest jednakowe. Dodatkowo oprogramowanie ISTRA 4D obsługuje również różne typy głowic w technice cyfrowej korelacji obrazu DIC.
Najbardziej popularne odmiany systemu to Q-300 oraz Q-100

Głowica Q 300

Systemy elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI 9.5 1

Zalety systemu:

  • BRAK KONIECZNOŚCI NANOSZENIA MARKERÓW NA PRÓBKĘ
  • DOKŁADNY
  • BEZKONTAKTOWY
  • WIELOWYMIAROWY 3D + CZAS
  • PROSTY W UŻYCIU
  • PRZYJAZNY INTERFEJS
  • GRAFICZNA REPREZENTACJA WYNIKÓW ZBLIŻONA DO FEM
  • MOŻLIWOŚĆ WERYFIKACJI MODELI FEM
  • MOŻLIWOŚĆ EKSPORTU WYNIKÓW DO FILMU (AVI)
  • MOŻLIWOŚĆ EKSPORTU SUROWYCH WYNIKÓW DO PLIKU TEKSTOWEGO

Przykład graficznej prezentacji wyników. Największe odkształcenie reprezentuje kolor czerwony a najmniejsze kolor fioletowy.

Systemy elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI 9.5 2

Parametry typowej konfiguracji głowicy Q-300 przedstawia tabela poniżej

Systemy elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI 9.5 3

Porównanie rozdzielczości systemów ESPI i DIC w zależności od wielkości pola widzenia (wielkości analizowanego obiektu).

Systemy elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI 9.5 4

Głowica Q-100

Mała, kompaktowa głowica umożliwia wykonywanie analizy odkształceń w trudno dostępnych miejscach urządzeń i konstrukcji. System jest całkowicie przenośny i badania można wykonywać również w terenie. Szybki i łatwy montaż oraz prawie całkowicie zautomatyzowane oprogramowanie ISTRA 4D sprawiają że system często znajduje zastosowanie w przemyśle.

Systemy elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI 9.5 5

Zalety systemu:

  • BRAK KONIECZNOŚCI NANOSZENIA MARKERÓW NA PRÓBKĘ
  • DOKŁADNY
  • BEZKONTAKTOWY
  • WIELOWYMIAROWY 3D + CZAS
  • MAŁA GŁOWICA UMOŻLIWIA ANALIZĘ TRUDNO DOSTĘPNYCH MIEJSC
  • PROSTY W UŻYCIU
  • PRZYJAZNY INTERFEJS
  • GRAFICZNA REPREZENTACJA WYNIKÓW ZBLIŻONA DO FEM
  • MOŻLIWOŚĆ WERYFIKACJI MODELI FEM
  • MOŻLIWOŚĆ EKSPORTU WYNIKÓW DO FILMU (AVI)
  • MOŻLIWOŚĆ EKSPORTU SUROWYCH WYNIKÓW DO PLIKU TEKSTOWEGO
Przykład graficznej prezentacji wyników. Największe odkształcenie reprezentuje kolor czerwony a najmniejsze kolor fioletowy.

Systemy elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI 9.5 6