Firma Elhys oferuje szeroki wybór urządzeń do optycznego pomiaru odkształceń

Urządzenia do optycznej analizy odkształceń stanowią najbardziej dynamicznie rozwijający się dział badań materiałowych. Stanowią one alternatywę dla stosowanych od lat metod opartych na takich urządzeniach jak ekstensometry czy LVDT. Dzięki wzrostowi mocy obliczeniowej komputerów oraz dostępności wysokiej klasy kamer cyfrowych optyczne systemy pomiaru odkształceń stały się kompaktowe i przenośne. Można je wykorzystywać zarówno w laboratorium jak i w terenie. Urządzenia te posiadają wiele zalet. Są bezkontaktowe, co umożliwia badanie bardzo delikatnych materiałów (mikropróbki, biomateriały) oraz materiałów badanych w wysokich temperaturach (do 1400 stopni C). Umożliwiają jednoczesny pomiar wielu osi (na przykład pojedyncza kamera może jednocześnie badać odkształcenie podłużne i poprzeczne). Systemy oparte na technikach ESPI (elektronicznej interferometrii plamkowej) oraz DIC (cyfrowej korelacji obrazu) umożliwiają analizę pola odkształceń 3D (osie x,y,z) a wyniki prezentowane w postaci graficznej umożliwiają weryfikację modeli FEM. Urządzenia do optycznej analizy odkształceń dzielimy na systemy czasu rzeczywistego (online) oraz systemy rejestrujące odkształcenia w celu ich późniejszej analizy (offline). Obydwa systemy można stosować niezależnie od maszyn wytrzymałościowych, ale można je również w pełni zintegrować z maszynami. Urządzenia do optycznych pomiarów odkształceń zapewniają ogromną dokładność pomiaru. W technice ESPI dla próbek o wymiarach kilkunastu centymetrów można uzyskać dokładność pomiaru sięgającą kilku nanometrów.