Wideoekstensometry i Ekstensometry Laserowe
Systemy Cyfrowej Koleracji Obrazu
Systemy Elektronicznej Interferometrii Plamkowej
Projektowanie stanowisk badawczych
Oporogramowanie systemowe
Programowanie metod badawczych
Czujniki MTS
Czujniki InterfaceForce
Czujniki Momentu Obrotowego do 1200 Nm i 12000 obr/min
Acumen
Bionix Landmark
Tytron MiniBionix
Stanowiska Badawcze
Wielokanałowe Kontrolery
Bezkontaktowa Analiza Odkształceń
Testowanie Konstrukcji
Badanie Materiałów Konstrukcyjnych
Badanie Wytrzymałości Mocowań
Badanie Betonu
Symulatory Sejsmiczne
Badanie Konstrukcji Budowlanych i Drogowych
Sterowanie Maszyn Wytrzymałościowych
Zaawansowana Kompensacja Adaptacyjna
Wielokanałowe Kontrolery Czasu Rzeczywistego
Badania Jednosiowe
Ściskanie ze Ścinaniem
Komory Trójosiowe do 1400 Atmosfer
Testowanie Komponentów
Wieloosiowe Stanowiska Badawcze
Zaawansowane Symulatory Drogi
Badania do 1000 Hz
Maszyny Osiowo-Skrętne
Maszyny Dynamiczne od 10 kN do 30 000 kN
Biomateriały, Elastomery, Metale, Skały, Kompozyty...
Testy Statyczne, Dynamiczne, Zmęczeniowe...
Testy Zgodne z EN, ISO, ASTM...
Serwozawory
Siłowniki Hydrauliczne
Zasilacze Hydrauliczne SilenFlo
Badanie Dużych Sił
Symulatory Obciążeń Drogowych i Kolejowych
Złożone Wielosiowowe Stanowiska Badawcze

Firma Elhys

Firma ELHYS Sp. z o.o. powstała w 1986 roku  i od samego początku jest przedstawicielem firmy MTS w Polsce i pełni autoryzowany serwis.

o firmie

Newsletter firmy Elhys

Zachęcamy Państwa do zapisania się na listę subskrybentów naszego Newslettera.

Przy pomocy Newslettera będziemy Państwa informowali o wszystkich aktualnościach:

  • nowościach technicznych
  • aktualnych imprezach
  • promocjach
  • szkoleniach

Zapisz mnie! 

Link do strony z subskrypcja

Wypisz mnie z listy... 

 

Firma Elhys oferuje szeroki wybór urządzeń do optycznego pomiaru odkształceń

Videoextensometer MTS Fundamental FVX zoomSystemy elektronicznej interferometrii plamkowej ESPI 9.5 2

Videoekstensometr ME-46 NG 9.1 2

 

Urządzenia do optycznej analizy odkształceń stanowią najbardziej dynamicznie rozwijający się dział badań materiałowych. Stanowią one alternatywę dla stosowanych od lat metod opartych na takich urządzeniach jak ekstensometry czy LVDT. Dzięki wzrostowi mocy obliczeniowej komputerów oraz dostępności wysokiej klasy kamer cyfrowych optyczne systemy pomiaru odkształceń stały się kompaktowe i przenośne. Można je wykorzystywać zarówno w laboratorium jak i w terenie. Urządzenia te posiadają wiele zalet. Są bezkontaktowe, co umożliwia badanie bardzo delikatnych materiałów (mikropróbki, biomateriały) oraz materiałów badanych w wysokich temperaturach (do 1400 stopni C). Umożliwiają jednoczesny pomiar wielu osi (na przykład pojedyncza kamera może jednocześnie badać odkształcenie podłużne i poprzeczne). Systemy oparte na technikach ESPI (elektronicznej interferometrii plamkowej) oraz DIC (cyfrowej korelacji obrazu) umożliwiają analizę pola odkształceń 3D (osie x,y,z) a wyniki prezentowane w postaci graficznej umożliwiają weryfikację modeli FEM. Urządzenia do optycznej analizy odkształceń dzielimy na systemy czasu rzeczywistego (online) oraz systemy rejestrujące odkształcenia w celu ich późniejszej analizy (offline). Obydwa systemy można stosować niezależnie od maszyn wytrzymałościowych, ale można je również w pełni zintegrować z maszynami. Urządzenia do optycznych pomiarów odkształceń zapewniają ogromną dokładność pomiaru. W technice ESPI dla próbek o wymiarach kilkunastu centymetrów można uzyskać dokładność pomiaru sięgającą kilku nanometrów.